Física

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Imagens com contraste de número atômico (Z) podem ser adquiridas utilizando-se um detector anular de alto ângulo em microscopia eletrônica de transmissão em modo varredura (STEM). Neste contexto, assinale a alternativa…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

No Microscópio Eletrônico de Transmissão (MET), um feixe de elétrons acelerado por alta tensão atravessa e interage com uma amostra transparente. Em relação à fonte de elétrons, podemos afirmar que:

FísicaLentes esféricas· 2018· UFRJ

O colar de correção para aberração esférica é um dispositivo que pode estar presente em algumas objetivas utilizadas nos sistemas de triagem em alta vazão (high-throughput screening) e análise de alto conteúdo (high con…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Dependendo da profundidade de campo utilizada no microscópio eletrônico de varredura, imagens de superfícies inclinadas podem aparecer com regiões em foco e fora de foco. Ajustes no feixe de elétrons permitem corrigir o…

FísicaInterferência, difração e polarização da luz· 2018· UFRJ

Para a microscopia de polarização, NÃO devem ser usados:

FísicaPrincípios da óptica geométrica e espelhos planos· 2018· UFRJ

A fim de atingir a máxima resolução possível ao utilizar microscopia óptica de campo claro, a abertura numérica do condensador deve ser:

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

No microscópio eletrônico, a interação elétron-matéria gera fótons de raio-x que podem ser utilizados para a identificação dos elementos presentes na amostra. Quanto ao raio-x, ele é originado da interação:

FísicaÓptica da visão e instrumentos ópticos· 2018· UFRJ

As técnicas de microscopia de super-resolução STORM, PALM e GSD se baseiam em:

FísicaÓptica da visão e instrumentos ópticos· 2018· UFRJ

O microscópio confocal normalmente utiliza como fonte de luz um laser e focaliza em um ponto da amostra em uma espessura bem fina em nanômetros. A luz é captada pelo detector ao passar por um orifício de abertura ou “pi…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Para capturar imagens no microscópio eletrônico de transmissão (MET), no modo convencional, com boa resolução e contraste, alguns ajustes são necessários. Assinale a opção correta.

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

A microtomografia tem como principal limitação:

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Os microscópios eletrônicos de transmissão (MET) dispõem de diversas aberturas em seu sistema ótico. Assinale a opção que descreve corretamente a posição da abertura de difração (SAED) e sua utilidade no MET.

FísicaInteração da radiação com a matéria· 2018· UFRJ

Uma maneira de analisar a interação do feixe de elétrons com a matéria é através do parâmetro conhecido como “livre caminho médio”. Neste contexto, assinale a alternativa que descreve corretamente a definição de “livre…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Em geral, os microscópios de duplo feixe (dual beam) dispõem de um sistema injetor de gases para depositar sobre a superfície da amostra um filme metálico. Assinale a alternativa que descreve corretamente o mecanismo de…

FísicaSistema Internacional de Unidades· 2018· UFRJ

O Vocabulário Internacional de Metrologia (VIM, 2008) define o Sistema Internacional de Unidades como: “Sistema de unidades, baseado no Sistema Internacional de Grandezas, incluindo os nomes e os símbolos das unidades e…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Uma das funções mais utilizadas no microscópio eletrônico de transmissão é o ajuste da densidade de corrente sobre a amostra. Assinale o componente do microscópio responsável por essa função.

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

A tomografia de elétrons é uma técnica usada no microscópio eletrônico de transmissão (MET) para reconstruir o volume da amostra em três dimensões. Tomografias de elétrons no MET podem ser obtidas nos modos transmissão…

FísicaFotometria e cores· 2018· UFRJ

A intensidade do brilho de uma marcação fluorescente depende de alguns fatores. Entre as opções abaixo, assinale aquela que NÃO influencia nessa intensidade.

FísicaInterferência, difração e polarização da luz· 2018· UFRJ

A resolução espacial pode ser definida como a menor distância entre dois pontos que um sistema ótico pode resolver. O comprimento de onda da fonte e o número de abertura da lente (ângulo de coleta) são fatores important…

FísicaCorrente, resistência elétrica e leis de Ohm· 2016· UFRJ

Uma resistência elétrica tubular, para degelo de um determinado sistema de refrigeração, trabalha sob a tensão de 440 V. Quando ligada, sabe-se que a corrente elétrica nominal que a atravessa é de 11 A. É correto afirma…