Questões de Física · PR4 (UFRJ)

FísicaRaios X e microscopia eletrônicaPR4 (UFRJ) 2018

UFRJ

Questão de Física

Dependendo da profundidade de campo utilizada no microscópio eletrônico de varredura, imagens de superfícies inclinadas podem aparecer com regiões em foco e fora de foco. Ajustes no feixe de elétrons permitem corrigir o foco e a inclinação nas imagens de superfícies inclinadas. Assinale a opção correta sobre o foco dinâmico e a correção geométrica.

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Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.