Física

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Na aquisição automática de séries tomográficas no MET, no modo transmissão (feixe paralelo), o deslocamento da imagem é um dos parâmetros utilizados pelo programa de aquisição para o cálculo do autofoco, isto é:

FísicaÓptica da visão e instrumentos ópticos· 2018· UFRJ

A microscopia multifotônica com excitação por dois fótons é obtida através de um processo de óptica não linear. Assinale a afirmativa que explica essa não linearidade.

FísicaInterferência, difração e polarização da luz· 2018· UFRJ

O microscópio ótico de luz pode atingir aumentos de aproximadamente 103 vezes enquanto o microscópio eletrônico atinge aumentos de mais de 106 vezes. O microscópio eletrônico apresenta uma resolução espacial superior ao…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Existem limitações, no uso de MET, para a reconstrução tomográfica de materiais cristalinos, sendo preferível o uso de STEM nesses casos. Assinale a alternativa que descreve a principal limitação do uso de MET para tomo…

FísicaInterferência, difração e polarização da luz· 2018· UFRJ

A resolução teórica de um sistema óptico pode ser calculada através do critério de Rayleigh. Neste sentido, pode-se afirmar que:

FísicaInstrumentos de medidas elétricas· 2018· UFRJ

O equipamento mostrado na figura a seguir é denominado:

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Diversos alinhamentos são necessários antes de realizar a aquisição das imagens no microscópio eletrônico de transmissão. A posição da amostra no eixo ótico do microscópio deve ser ajustada. Assinale a alternativa corre…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

O contraste das imagens no MEV é formado pela variação da intensidade dos elétrons secundários e retroespalhados que são originados da interação elétron-matéria. Assinale a alternativa correta considerando um feixe de 3…

FísicaMedidas, algarismos significativos e erros· 2018· UFRJ

Na análise quantitativa de mensurandos, é desejável o emprego de métodos que apresentem boa exatidão. Nesse contexto, assinale a alternativa correta.

FísicaÓptica da visão e instrumentos ópticos· 2018· UFRJ

Apesar de usar o mesmo princípio para alcançar uma resolução maior que o limite imposto pela difração da luz, as técnicas de STORM, PALM e GSD se diferenciam quanto ao fenômeno fotofísico explorado. Levando isso em cons…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

O feixe de elétrons do microscópio eletrônico é gerado no canhão e passa por diversas lentes eletromagnéticas e aberturas antes de atingir a amostra. Assinale a opção correta sobre o tema.

FísicaInterferência, difração e polarização da luz· 2018· UFRJ

Materiais anisotrópicos têm propriedade de birrefringência, ou seja, um raio de luz polarizada ao atravessar um material anisotrópico sofre o fenômeno de dupla refração. Isso possibilita identificar os diferentes tipos…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Diferentes detectores são utilizados para capturar imagens no microscópio eletrônico de varredura (MEV) e de transmissão nos modos transmissão (MET) e varredura (STEM). Indique a opção que descreve corretamente os detec…

FísicaSistema Internacional de Unidades· 2018· UFRJ

O Sistema Internacional de Unidades de medidas (sigla SI, do francês Système international d’unités) é concebido em torno de sete unidades básicas. A única sentença que atende adequadamente ao conjunto sistematizado e p…

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

O alinhamento do feixe é indispensável para qualquer técnica avançada em microscopia eletrônica de transmissão. Nesse contexto, assinale a alternativa que melhor caracteriza a etapa inicial de um alinhamento.

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

As imagens geradas no MEV são formadas a partir de sinais originados da interação elétron- -matéria e captados por detectores. Os tipos de sinais utilizados na formação de imagem por microscopia eletrônica de varredura…

FísicaInterferência, difração e polarização da luz· 2018· UFRJ

Considerando a técnica de Microscopia de Super-Resolução por Iluminação Estruturada, selecione a alternativa INCORRETA.

FísicaRaios X e microscopia eletrônica· 2018· UFRJ

Dos parâmetros apresentados abaixo o que NÃO influencia na resolução da imagem em um MEV é o/a:

FísicaDetectores e dosimetria das radiações· 2018· UFRJ

Os experimentos de detecção de fluorescência apresentam ruído de fundo, ou background, que deve ser levado em consideração na avaliação e quantificação da intensidade do sinal. Sobre as possíveis fontes de ruído de fund…

FísicaEfeitos biológicos e proteção radiológica· 2018· UFRJ

A avaliação da mobilidade, da força e da tolerância é importante em sujeitos que apresentam limitação motora em atividades significativas no seu cotidiano. Estas características podem ser avaliadas, respectivamente, por: