Question

O contraste das imagens no MEV é formado pela variação da intensidade dos elétrons secundários e retroespalhados que são originados da interação elétron-matéria. Assinale a alternativa correta considerando um feixe de 30 keV.

Accepted Answer

E) O elétron secundário é um sinal de baixa energia (< 20 eV) e sua intensidade varia com a topografia e o número atômico médio da amostra. O elétron retroespalhado é um sinal de alta energia (> 20 eV) e sua intensidade varia com o número atômico médio da amostra.

Answer

A) O elétron secundário é um sinal de baixa energia (< 20 eV) e sua intensidade varia com o número atômico médio da amostra. O elétron retroespalhado é um sinal de alta energia (> 20 eV) e sua intensidade varia com a topografia da amostra.

Answer

B) O elétron secundário é um sinal de baixa energia (< 20 eV) e sua intensidade varia com a topografia da amostra. O elétron retroespalhado é um sinal de alta energia (> 20 eV) e sua intensidade varia com o número atômico médio da amostra.

Answer

C) O elétron secundário é um sinal de alta energia (> 20 eV) e sua intensidade varia com a topografia da amostra. O elétron retroespalhado é um sinal de baixa energia (< 20 eV) e sua intensidade varia com o número atômico médio da amostra.

Answer

D) O elétron secundário é um sinal de alta energia (> 20 eV) e sua intensidade varia com o número atômico médio da amostra. O elétron retroespalhado é um sinal de baixa energia (< 20 eV) e sua intensidade varia com a topografia da amostra.

Mais questões de Raios X e microscopia eletrônica