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Questões de Física

Raios X e microscopia eletrônica

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Questões de Raios X e microscopia eletrônica

  1. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015

    O ânodo giratório possui uma importante característica. Assinale a alternativa que apresenta esta característica.

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  2. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFPEL· 2015

    Assinale a alternativa correta a respeito do princípio de formação da imagem, obtido por meio da atenuação dos feixes de raios X, representado I = I e −μx matematicamente pela equação , onde 0 −μx −μx I = I0eé a intensi…

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  3. CEPS-UFPA· Técnico-Administrativo UFPA· 2015

    Os microscópios eletrônicos de transmissão (MET) e de varredura (MEV) apresentam, em sua estrutura, elementos em comum, embora a forma de visualização das amostras seja diferente. Quanto ao MET e ao MEV, é correto afirm…

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  4. FAURGS· HCPA· 2015

    Assinale a alternativa que apresenta o componente de um Microscópio Confocal responsável pela eliminação da luz fora de foco.

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  5. Consulplan· Pref Ibiraçu· 2015

    Um parâmetro que deve ser ajustado pelo técnico ao executar uma radiografia é a corrente que está indicada no painel de comando (mA). Quando este parâmetro é ajustado, o operador está ajustando:

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  6. CEPS UFPA· UFPA· 2015

    Quanto aos princípios físicos associados à radiação X, é correto afirmar:

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  7. Cebraspe· Telebras· 2015

    Uma das desvantagens dos relés é que seu funcionamento se baseia em partes móveis, as quais, pela estrutura de montagem, requerem manutenção por desgaste de acionamento.

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  8. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    A resolução máxima de um moderno microscópio eletrônico de varredura está na escala de

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  9. FAFIPA· Pref Londrina· 2015

    O aparelho de Raios X é composto por três partes principais, são elas, cabeçote, painel de controle (circuitos) e receptores de imagem. Sobre as três partes do aparelho, assinale o que for CORRETO:

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  10. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015

    O anodo giratório ou fixo do tubo de raios-x é fabricado com um metal que suporta altas temperaturas e possui um alto ponto de fusão. O metal utilizado na fabricação do anodo é o

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  11. INSTITUTO PRÓ-MUNICÍPIO· ISGH· 2015

    São características dos Raios X, EXCETO:

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  12. Instituto AOCP· EBSERH HU-UFJF· 2015

    A curva característica determina o comportamento do contraste de um filme em um intervalo de exposição. Sobre ela, assinale a alternativa correta.

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  13. SGP UERJ· UERJ· 2015

    Microscópios eletrônicos necessitam de lentes condensadoras e objetivas para, respectivamente, condensar e focalizar o feixe incidente sobre a amostra. Nesses microscópios, as lentes possuem a seguinte característica:

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  14. Instituto AOCP· EBSERH HU-UFJF· 2015

    Um dos fenômenos que tem relação com a qualidade da imagem em radiologia é o efeito anódico. Sobre o efeito anódico, assinale a alternativa correta.

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  15. CETRO· AMAZUL· 2015

    Sobre o teste de esfregaço, assinale a alternativa correta.

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  16. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    A figura a seguir ilustra qualitativamente o comportamento da geração de elétrons secundários e retroespalhados em função do número atômico da amostra. GOODHEW P. J.; HUMPHREYS J.; BEANLAND R. Electron Microscopy and An…

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  17. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    Qual é o potencial de aceleração do feixe eletrônico a partir do qual a velocidade do elétron adquire valor maior que 60% da velocidade da luz, desprezando os efeitos relativísticos?

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  18. Instituto AOCP· EBSERH HU-UFJF· 2015

    Os raios-x são produzidos quando elétrons em alta velocidade chocam-se contra um alvo (ânodo), produzindo radiação e calor. A proporção de calor e raios-x produzido durante esse processo é de

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  19. CETRO· AMAZUL· 2015

    Os dispositivos de entrada realizam interfaceamento entre o sistema físico e o sistema de controle eletrônico, levando informações do processo para o controlador. Considerando os parâmetros fundamentais dos sensores, é…

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  20. SGP UERJ· UERJ· 2015

    As formas mais comuns de observação de uma amostra por microscopia eletrônica de varredura são baseadas na detecção de elétrons: 1) de baixa energia, resultantes da interação do feixe incidente com os elétrons da amostr…

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