Questões de Física
Raios X e microscopia eletrônica
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Questões de Raios X e microscopia eletrônica
Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015
O ânodo giratório possui uma importante característica. Assinale a alternativa que apresenta esta característica.
ResolverInstituto AOCP· HU Brasil HE-UFPEL· 2015
Assinale a alternativa correta a respeito do princípio de formação da imagem, obtido por meio da atenuação dos feixes de raios X, representado I = I e −μx matematicamente pela equação , onde 0 −μx −μx I = I0eé a intensi…
ResolverCEPS-UFPA· Técnico-Administrativo UFPA· 2015
Os microscópios eletrônicos de transmissão (MET) e de varredura (MEV) apresentam, em sua estrutura, elementos em comum, embora a forma de visualização das amostras seja diferente. Quanto ao MET e ao MEV, é correto afirm…
ResolverFAURGS· HCPA· 2015
Assinale a alternativa que apresenta o componente de um Microscópio Confocal responsável pela eliminação da luz fora de foco.
ResolverConsulplan· Pref Ibiraçu· 2015
Um parâmetro que deve ser ajustado pelo técnico ao executar uma radiografia é a corrente que está indicada no painel de comando (mA). Quando este parâmetro é ajustado, o operador está ajustando:
ResolverCEPS UFPA· UFPA· 2015
Quanto aos princípios físicos associados à radiação X, é correto afirmar:
ResolverCebraspe· Telebras· 2015
Uma das desvantagens dos relés é que seu funcionamento se baseia em partes móveis, as quais, pela estrutura de montagem, requerem manutenção por desgaste de acionamento.
Julgar o itemInstituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015
A resolução máxima de um moderno microscópio eletrônico de varredura está na escala de
ResolverFAFIPA· Pref Londrina· 2015
O aparelho de Raios X é composto por três partes principais, são elas, cabeçote, painel de controle (circuitos) e receptores de imagem. Sobre as três partes do aparelho, assinale o que for CORRETO:
ResolverInstituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015
O anodo giratório ou fixo do tubo de raios-x é fabricado com um metal que suporta altas temperaturas e possui um alto ponto de fusão. O metal utilizado na fabricação do anodo é o
ResolverINSTITUTO PRÓ-MUNICÍPIO· ISGH· 2015
São características dos Raios X, EXCETO:
ResolverInstituto AOCP· EBSERH HU-UFJF· 2015
A curva característica determina o comportamento do contraste de um filme em um intervalo de exposição. Sobre ela, assinale a alternativa correta.
ResolverSGP UERJ· UERJ· 2015
Microscópios eletrônicos necessitam de lentes condensadoras e objetivas para, respectivamente, condensar e focalizar o feixe incidente sobre a amostra. Nesses microscópios, as lentes possuem a seguinte característica:
ResolverInstituto AOCP· EBSERH HU-UFJF· 2015
Um dos fenômenos que tem relação com a qualidade da imagem em radiologia é o efeito anódico. Sobre o efeito anódico, assinale a alternativa correta.
ResolverCETRO· AMAZUL· 2015
Sobre o teste de esfregaço, assinale a alternativa correta.
ResolverInstituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015
A figura a seguir ilustra qualitativamente o comportamento da geração de elétrons secundários e retroespalhados em função do número atômico da amostra. GOODHEW P. J.; HUMPHREYS J.; BEANLAND R. Electron Microscopy and An…
ResolverInstituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015
Qual é o potencial de aceleração do feixe eletrônico a partir do qual a velocidade do elétron adquire valor maior que 60% da velocidade da luz, desprezando os efeitos relativísticos?
ResolverInstituto AOCP· EBSERH HU-UFJF· 2015
Os raios-x são produzidos quando elétrons em alta velocidade chocam-se contra um alvo (ânodo), produzindo radiação e calor. A proporção de calor e raios-x produzido durante esse processo é de
ResolverCETRO· AMAZUL· 2015
Os dispositivos de entrada realizam interfaceamento entre o sistema físico e o sistema de controle eletrônico, levando informações do processo para o controlador. Considerando os parâmetros fundamentais dos sensores, é…
ResolverSGP UERJ· UERJ· 2015
As formas mais comuns de observação de uma amostra por microscopia eletrônica de varredura são baseadas na detecção de elétrons: 1) de baixa energia, resultantes da interação do feixe incidente com os elétrons da amostr…
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