Questões de Física · SGP UERJ
FísicaRaios X e microscopia eletrônicaSGP UERJ 2015
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Questão de Física
As formas mais comuns de observação de uma amostra por microscopia eletrônica de varredura são baseadas na detecção de elétrons: 1) de baixa energia, resultantes da interação do feixe incidente com os elétrons da amostra; 2) que sofreram espalhamento elástico ao interagir com a amostra. Esses elétrons são, respectivamente, definidos como:
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