Os microscópios de duplo feixe (Dual-be… (PR4 (UFRJ) 2018)

QuímicaAnálise térmica, difração de raios X e microscopiaPR4 (UFRJ) 2018

UFRJ

8

Os microscópios de duplo feixe (Dual-beam) são equipados com uma coluna de elétrons (MEV) e uma coluna de íons (FIB). Assinale a opção que caracteriza corretamente o funcionamento do FIB e do MEV.

AO FIB utiliza voltagens de aceleração inferiores ao MEV. As lentes no FIB são eletrostáticas, enquanto no MEV são eletromagnéticas.BAs fontes de íons e elétrons utilizam faixas de energia semelhantes. As lentes no FIB e no MEV são eletromagnéticas.CO FIB utiliza voltagens de aceleração superiores ao MEV. As lentes no FIB são eletrostáticas, enquanto no MEV são eletromagnéticas.DO FIB utiliza voltagens de aceleração inferiores ao MEV. As lentes no FIB e no MEV são eletrostáticas.EOs feixes de íons e elétrons utilizam faixas de energia semelhantes. As lentes no FIB são eletrostáticas, enquanto no MEV são eletromagnéticas.

Mais questões de Análise térmica, difração de raios X e microscopia

Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.