A técnica de microscopia de força elétr… (Cebraspe 2010)

FísicaCampo elétrico e lei de GaussCebraspe 2010

INMETRO

A técnica de microscopia de força elétrica

Aé apropriada para investigar amostras planas, pois em amostras rugosas o fenômeno de concentração de carga, denominada poder das pontas, pode gerar danos na ponta de prova.Bpermite apenas o levantamento do mapa de força elétrica da amostra, sendo necessária a substituição do cantiléver para se realizar o mapeamento topográfico.Cexige o mapeamento topográfico da amostra antes de se fazer o mapeamento elétrico.Dexige a utilização do modo de contato e o uso de cantiléver de pequena constante elástica.Eserve apenas para materiais condutores ou semicondutores, não sendo eficaz em materiais isolantes.

Mais questões de Campo elétrico e lei de Gauss

Vunesp 2026O gráfico mostra o comportamento da intensidade do campo elétrico gerado por uma carga elétrica puntiforme de valor constante em um ponto P do espaço, conforme a distância entre e…
FGV 2026Em um projeto interdisciplinar sobre a contaminação de ambientes aquáticos por microplásticos, estudantes assistem a uma animação de um método experimental em que partículas de mi…
PUBLIConsult 2026Sobre a física da proteção contra descargas elétricas atmosféricas, o guia desmistifica o uso de veículos como abrigo. Qual é a explicação técnica para a segurança dentro de um au…
Cebraspe 2026A energia armazenada no campo elétrico no condutor cilíndrico externo pode ser expressa em função da permissividade elétrica e do quadrado do campo elétrico.
Vunesp 2026O medidor EMF é um aparelho utilizado principalmente para detectar e medir campos elétricos, muito utilizado para verificar se há excessos dessas radiações em determinados ambient…

Ver as 294 questões de Campo elétrico e lei de Gauss

Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.