Na análise de um material por difratome… (COPS UFLA 2009)

QuímicaAnálise térmica, difração de raios X e microscopiaCOPS UFLA 2009

UFLA

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Na análise de um material por difratometria de raios‐X, observou‐se que a linha base aumentava em uma taxa constante com o aumento do ângulo 2 θ; esse fenômeno pode ter como causa:

Aa fluorescência de raios‐X gerada por alguma espécie presente na matriz analisada.Ba falta de correção da linha base, que deveria ter sido ajustada antes do início da análise.Ca grade de difração do aparelho não estar filtrando a luz espúria.Do filtro de radiação eletromagnética de baixa energia não estar funcionando.

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Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.