A geração de uma imagem pela detecção d… (SGP UERJ 2015)

FísicaRaios X e microscopia eletrônicaSGP UERJ 2015

UERJ

A geração de uma imagem pela detecção de SE proveniente de uma amostra em um MEV depende de seu feixe incidente. A característica desse feixe e a forma como interage com a amostra são, respectivamente:

Aparalelo / é defletido em foco sobre a amostra por um sistema de bobinasBconvergente / é defletido em foco sobre a amostra por um sistema de bobinasCparalelo / atravessa a amostra, formando a imagem em um detector abaixo da amostraDconvergente / atravessa a amostra, formando a imagem em um detector abaixo da amostra

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Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.