A difratometria de raios X corresponde… (CETRO 2013)

QuímicaAnálise térmica, difração de raios X e microscopiaCETRO 2013

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A difratometria de raios X corresponde a uma das principais técnicas de caracterização microestrutural de materiais cristalinos, encontrando aplicações em diversos campos do conhecimento. É correto afirmar que, na difratometria de raios X,

Aa intensidade de difração de raios X independe do número de elétrons dos átomos em um dado plano cristalino.Ba difração de raios X está relacionada ao espalhamento elástico dos raios X incidentes sobre uma amostra.Cas condições para que ocorra a difração de raios X vão depender apenas do comprimento de onda da radiação incidente.Da determinação de tamanho de cristalitos refere-se a uma medida direta, sem a necessidade de comparação com padrão ou calibração instrumental.Eos planos de difração e suas respectivas distâncias interplanares, bem como as densidades de átomos, são características comuns a várias substâncias cristalinas.

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Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.