Questão de Estatística

A técnica de fotoelétrons excitados por raios-X (XPS) fornece informações sobre a composição atômica, identificação elementar, estado químico e número de coordenação dos átomos na superfície de uma amostra. Analise as assertivas abaixo sobre essa técnica: I. A XPS pode fornecer informações estruturais de curto alcance, como o número de coordenação e as distâncias interatômicas ao redor do átomo estudado, permitindo estimar a desordem local do sistema. II. Os principais contaminantes na superfície de uma amostra na câmara são carbono, oxigênio, cloro, enxofre, cálcio e nitrogênio. Para obter uma superfície mais limpa, pode-se bombardear a superfície com íons de gases inertes, como Ar+, ou aquecê-la. Outros métodos de limpeza incluem a fratura de materiais frágeis em UHV e tratamentos químicos a altas temperaturas sob pressão parcial de O2 ou H2. III. Os picos fotoelétricos são sobrepostos por um fundo (background). Esse fundo é resultado de fotoelétrons produzidos dentro do ânodo da fonte de raios-X, que sofreram um ou mais processos de espalhamento inelástico antes de serem emitidos da superfície. Quais estão corretas?