Question

Durante a aquisição de séries tomográficas no microscópio de duplo feixe, dependendo da sofisticação do instrumento, o usuário poderá dispor de alguns recursos para correção de parâmetros importantes para que uma série de qualidade (com o maior contraste e resolução que o modelo permitir) seja gerada. Entre estes, podemos citar:

Accepted Answer

A) correção do foco do feixe de elétrons, do astigmatismo do feixe de elétrons, do deslocamento lateral da imagem obtida com o feixe de elétrons e da espessura do corte.

Answer

B) correção do foco do feixe de elétrons, do tamanho do pixel (pixel size), da espessura do corte e do brilho da imagem.

Answer

C) correção do foco do feixe de elétrons, do tamanho do pixel (pixel size), da espessura do corte, do contraste da imagem e do astigmatismo do feixe de elétrons.

Answer

D) correção do tamanho do pixel (pixel size), da espessura do corte, do brilho e contraste da imagem e do astigmatismo do feixe de íons.

Answer

E) correção do tamanho do pixel (pixel size), da espessura do corte, da voltagem do feixe de elétrons e do brilho e contraste da imagem.

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