Durante a operação do microscópio eletr… (COMPROV UFCG 2016)

FísicaRaios X e microscopia eletrônicaCOMPROV UFCG 2016

UFCG

Durante a operação do microscópio eletrônica de varredura, MEV, parâmetros operacionais devem ser constantemente ajustados para se adequarem às características da amostra e às necessidades momentâneas de aumento, de foco, de melhora do contraste e de minimização de aberrações. Escolha a opção que descreve corretamente o procedimento de operação do MEV.

APara melhorar a analise de amostras com elevada rugosidade deve-se diminuir a distância de trabalho.BPara operar o equipamento com elevados aumentos deve-se aumentar o diâmetro da abertura da objetiva.CPara diminuir o diâmetro da sonda deve-se diminuir o brilho do feixe de elétrons.DPara aumentar a profundidade de campo deve-se aumentar o ângulo de convergência da abertura da objetiva.EPara se trabalhar com elevados aumentos deve-se aumentar a distância de trabalho e a tensão de aceleração do feixe de elétrons.

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Questão de prova oficial, com o gabarito definitivo publicado pela banca. Reproduzida para fins de estudo.