Question

O feixe de elétrons do MEV e o feixe de íons do microscópio de feixe de íons focalizado (FIB) apresentam características particulares. Assinale a opção correta sobre tais características.

Accepted Answer

A) O livre caminho médio do íon na matéria é menor que o do elétron com a mesma energia. O feixe de íon é mais eficiente para remover material da amostra (sputtering) em comparação com o elétron.

Answer

B) O livre caminho médio do íon na matéria é maior que o do elétron com a mesma energia. O feixe de íon é mais eficiente para remover material da amostra (sputtering) em comparação com o elétron.

Answer

C) O livre caminho médio do íon na matéria é menor que o do elétron com a mesma energia. O feixe de íon é menos eficiente para remover material da amostra (sputtering) em comparação com o elétron.

Answer

D) O livre caminho médio do íon na matéria é similar ao do elétron com a mesma energia. O feixe de íon é mais eficiente para remover material da amostra (sputtering) em comparação com o elétron.

Answer

E) O livre caminho médio do íon na matéria é maior que o do elétron com a mesma energia. O feixe de íon é menos eficiente para remover material da amostra (sputtering) em comparação com o elétron.

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