Question

Observando-se a imagem a seguir (Figura 2), obtida por elétrons secundários (SE) em amostra metalizada com Au, aceleração de voltagem de 12,5kV e distância de trabalho de 15 mm, nota-se que ela mostra excesso de brilho, baixo contraste, faixas irregulares e falta de definição dos detalhes da superfície da amostra. Figura 2

Figura da questão (imagem do caderno de prova)

Esse artefato da imagem pode ser atribuído a uma das seguintes causas:

Accepted Answer

B) A corrente elétrica induzida pelo feixe de elétrons não é descarregada adequadamente para o aterramento do microscópio eletrônico, acumulando-se na forma de carga estática em áreas da superfície da amostra, gerando sinais espúrios que distorcem a qualidade da imagem.

Answer

A) Amostra suja e de superfície muito irregular, o que causa interferências na geração e detecção de elétrons secundários e seu processamento na composição digital da imagem.

Answer

C) Metalização defeituosa, aplicada de modo não uniforme na superfície da amostra, o que propicia a geração de um excesso de elétrons secundários e retroespalhados nas regiões onde a metalização é mais delgada ou eventualmente inexistente.

Answer

D) Seleção incorreta da distância de trabalho utilizada para a obtenção da imagem, a qual deveria ser menor para que, concomitantemente, seja reduzida também a geração de elétrons secundários nas regiões mais irregulares da amostra.

Answer

E) Seleção incorreta da aceleração de voltagem utilizada para obtenção da imagem, que deveria ser mais elevada, da ordem de 15 kV ou maior, de modo a aumentar também a energia dos elétrons secundários gerados, que não ficariam então retidos nessas regiões da amostra.

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