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Questões de Física

Raios X e microscopia eletrônica

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Questões de Raios X e microscopia eletrônica

  1. UFES· UFES· 2016

    Na estrutura cristalina do grafite hexagonal, dois planos grafenos adjacentes são separados pela distância de 0,335nm. A Lei de Bragg para difração de raios X é dada por 2d senθ = nλ , onde θ é o ângulo de difração, d é…

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  2. Copeve/UFAL· UFAL· 2016

    Feixes de luz laser geralmente são produzidos com intensidades luminosas relativamente altas; entretanto, alguns experimentos de investigação da matéria condensada em laboratórios de pesquisa exigem intensidades ainda m…

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  3. IBFC· EBSERH-HUAP· 2016

    Com relação à utilização de grades em exames de raios X convencional, assinale a alternativa INCORRETA.

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  4. FAU UNICENTRO· CISGAP· 2016

    Ainda em relação aos componentes do tubo de raios X, assinale a opção correta:

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  5. FGV· Pref SP· 2016

    A tomografia foi uma grande revolução na área da radiologia diagnóstica desde a descoberta dos raios X. Com ela é possível a reconstrução tridimensional da imagem por computação, o que possibilita a visualização de uma…

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  6. IBFC· EBSERH-HUAP· 2016

    Em tubos de raios X para mamografia existem combinações alvo/filtro para diferentes tipos de aquisições mamográficas dependendo da estrutura da mama. Os materiais mais utilizados são o molibdênio (Mo) e o ródio (Rh). De…

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  7. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015

    O mecanismo presente nos aparelhos de raios-x que tem a função de limitar o campo de exposição dos raios-x é denominado

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  8. SGP UERJ· UERJ· 2015

    A tensão de aceleração do feixe de elétrons incidente é um dos parâmetros importantes para a microanálise. A quantidade de fótons produzida por uma amostra em uma gama de energia varia em função da tensão de aceleração.…

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  9. FADE UFPE· UFPE· 2015

    A formulação da Teoria dos Quanta teve início com Max Planck (1901) e Albert Einstein (1905). Segundo a descrição dessa teoria, a radiação eletromagnética se propaga descontinuamente em pequenos pulsos de energia, chama…

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  10. CEPS UFPA· UFPA· 2015

    Um técnico de radiologia, ao selecionar um conjunto de fatores de exposição (técnica radiográfica) em um aparelho de raios X, obteve os seguintes valores: 75 kilovoltz, 200 miliamperes e 0,008 segundo. Isto significa qu…

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  11. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    No microscópio eletrônico de varredura (MEV), a diminuição da abertura final

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  12. Copeve/UFAL· UNCISAL· 2015

    Raio-X é a denominação dada a radiação eletromagnética de alta energia cuja origem está

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  13. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFPEL· 2015

    Em relação aos raios X, é correto afirmar que

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  14. FUNIVERSA· UEG· 2015

    Os raios-X característicos podem também ser produzidos por outros raios-X ou por outros elétrons de elevada energia. Neste caso, o fóton de luz é absorvido por um elétron (efeito fotoelétrico) e este elétron passa para…

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  15. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    Em microscópios eletrônicos são produzidos elétrons por meio de filamentos de tungstênio (W), cristais de hexaboreto de lantânio (LaB6) e emissão de campo (FEG), sendo que o

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  16. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015

    Ao adicionarmos filtração de alumínio na saída de raios X do tubo, o feixe é modificado de tal forma a

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  17. Instituto AOCP· HU Brasil HE-UFSCAR· 2015

    Nos aparelhos de mamografia, o anôdo é de molibdênio, isto ocorre para

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  18. CEPS UFPA· UFPA· 2015

    A imagem abaixo representa um esquema gráfico que simula a produção de raios X em uma ampola de raios catódicos. Com base na imagem acima, é correto afirmar:

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  19. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    A figura mostra qualitativamente a distribuição do número de elétrons emitidos de uma amostra no MEV em função da energia cinética dos mesmos. EGERTON R. F.: Physical Principles of Electron Microscopy. Berlim: Springer.…

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  20. Instituto Verbena· UFG: concurso público para técnico-administrativo em educação· 2015

    Em um microscópio de força atômica, por meio da espectroscopia de força lateral, pode-se medir a deflexão do braço em função do movimento vertical da amostra e as curvas registradas permitem determinar

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